국가연구개발성과
특허(출원)
초점 심도를 이용한 플랑크톤 검사 장치 및 그 방법
| 출원번호 | 10-2018-0121062 | 출원일 | 2018-10-11 |
|---|---|---|---|
| 출원인 | 공주대학교산학협력단 | 소속기관 사업자등록번호 | ***-**-**47* |
| 해외출원 여부 | 국내출원 | 출원/등록 국가 | 대한민국 |
| 우선권 주장번호 | - | 기여율 | 100 % |
기타사항
| 등록번호 | - | 등록일 | - |
|---|---|---|---|
| 발명자 |
이준호
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임효혁
※ 과제 참여정보와 일치하는 연구자 상세정보로 정확하지 않을 수 있습니다. |
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| IPC 코드 |
G01N 21/64
G01N 15/06
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| CPC 코드 |
G01N 21/645
G01N 15/06
G01N 21/6486
C12Q 1/04
G01N 2015/0693
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| 법적상태 | 거절 | ||
| 요약 | 본 발명의 일 실시예에 따른 초점 심도를 이용한 플랑크톤 검사 장치는, 플랑크톤을 포함하는 시료가 놓인 재물대와 상기 시료에 광을 조사하는 광원부와 상기 조사된 광에 반응하여 상기 플랑크톤으로부터 방사된 방사광이 통과되도록 설치되는 제1 광학계와 상기 제1 광학계의 후방에 위치하여, 상기 통과된 방사광을 반사시키는 반사부와 상기 반사부로부터 반사된 방사광을 복수의 서로 다른 초점거리로 검출부에 전달하는 제2 광학계와 상기 방사광이 복수의 서로 다른 초점거리로 전달됨에 따라, 상기 시료의 복수의 서로 다른 깊이의 레이어에 대한 이미지를 검출하는 검출부와 상기 초점거리를 제1 초점거리에서 제2 초점거리로 변경하기 위하여, 상기 제2 광학계가 제1 위치에서 제2 위치로 이동되도록 제어하는 제어부를 포함할 수 있다. | ||
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