특허(출원)
고해상도 X-선 촬영을 위한 광학계 정렬 구조 및 방법
출원번호 | 10-2018-0114226 | 출원일 | 2018-09-21 |
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출원인 | 포항공과대학교산학협력단 | 소속기관 사업자등록번호 | ***-**-**30* |
해외출원 여부 | 국내출원 | 출원/등록 국가 | 대한민국 |
우선권 주장번호 | - | 기여율 | 50 % |
등록번호 | 10-2034545-0000 | 등록일 | 20191015 |
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발명자 |
김남호
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양운
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제정호
※ 과제 참여정보와 일치하는 연구자 상세정보로 정확하지 않을 수 있습니다. |
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IPC 코드 |
G02B 21/00
G02B 26/00
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CPC 코드 |
G02B 21/0004
G02B 26/00
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법적상태 | 등록 | ||
요약 | 본 발명은 고해상도의 X-선 촬영이 가능한 현미경 광학계의 정렬에 관한 것으로, 투과 X-선 현미경의 광학계로서 적어도 X-선 광원, 집광 렌즈, 시편, 구역판, 및 CCD 카메라를 포함하는 광학요소들로 이루어지고, 상기 광학요소들 중 적어도 일부가 통 형상 구조물 내에 설치되되, 상기 통 형상 구조물은 X-선 광원으로부터 집광된 X-선이 통과하도록 입구측과 출구측의 각 단부의 중앙에 각각 핀 홀이 형성되고, 상기 통 형상 구조물 내에서 상기 광학요소들은 중심축이 상기 핀 홀과 동일선상에 위치하도록 정렬되는 것을 특징으로 하는 고해상도 X-선 촬영을 위한 광학계 정렬 구조 및 방법이 제안된다. |
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